一鍵式測量儀的測量誤差你遇到過嗎？原因可能在這里

　　一鍵式測量儀是近十年來發(fā)展快速的幾何光學(xué)測量儀器，它一般由機械、照明、測長、圖像采集、計算機和測量軟件等六部分組成。光學(xué)原理與普通投影儀很類似，區(qū)別在于被測件的輪廓影像被CCD傳感器接收并由計算機進行圖像采集和處理。它能檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓和表面形狀尺寸、角度及位置，特別是精密零部件的微觀檢測與質(zhì)量控制，適用于產(chǎn)品開發(fā)、逆向工程、品質(zhì)檢測等領(lǐng)域。
　　下面我們來了解下一鍵式測量儀的誤差來源。
　　在一鍵式測量儀上的測量均是單軸或二維平面坐標的測量，測量時先對焦，后對準，再讀數(shù)(計數(shù))，最后計算處理。讀數(shù)來自于標尺即光柵系統(tǒng)，對焦對準依靠顯微鏡光學(xué)系統(tǒng)，還有一個直接影響測量效果和精度的照明光源，因為，基于影像方法測量的儀器，如果被測件不能被有效正確的照明，則測量的結(jié)果顯然要偏離其真實尺寸。
　　除上述因素外，環(huán)境條件也是制約測量精度不可忽視的因素。基于上述分析，可以歸納出一鍵式測量儀誤差來源于以下幾個方面：
　　1、光柵計數(shù)尺的誤差；
　　2、工作臺移動時存在的直線度、角擺帶來的誤差；
　　3、工作臺兩測量軸垂直度帶了的誤差；
　　4、顯微鏡光軸與工作臺面不垂直帶了的誤差；
　　5、測量室溫度帶來的誤差；
　　6、光源照明條件的變化帶來的對焦和對準誤差。
　　在這幾種因素中，前四項誤差，是硬件誤差，在儀器制造過程中已經(jīng)形成并固定下來。一般無法改變；溫度影響帶來的誤差，通過控制測量室的溫度和等溫過程來減小其影響。最后一項則常被忽視，而在實際測量中，當光源照明條件改變時，直接影響被測工件的照明效果和影像質(zhì)量，主要是因為一鍵式測量儀的圖像是通過CCD接收，盡管CCD具有自動調(diào)節(jié)增益的功能，但當亮度過大時即失去調(diào)節(jié)功能，導(dǎo)致被測工件影像在縮小，當亮度過低時，工件影像反而變大。
　　以上就是針對一鍵式測量儀的相關(guān)技術(shù)分析，供大家參考！